精密四探针电阻率测试仪  型号：HAD-S2662

HAD-S2661/2662/2663 系列精密四探针电阻率测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE 膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO 膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。

性能特点

v 超大液晶人性化操作界面

v 多种测量参数可选

v 测量数据自动保持功能

v 超快测量并显示读数

v 量程有自动和手动双模式

v 档号显示及档计数功能

v 兼容多种材料测量

v 专业的通讯接口可以与 PC 进行数据通讯及对仪器的远程控制

应用

l 金属片、导电金属箔材料、金属箔上涂层

l 单晶硅、多晶硅、硅片、硅晶棒、硅锭、硅块料

l 石墨烯、锂电池电极、氢燃料电池双极板、太阳能电池片

产品型号 HAD-S2661 HAD-S2662 HAD-S2663 HAD-S2663A  

HAD-S2661  电阻率 10µΩ･cm－200kΩ･cm     电阻率 10µΩ･cm－200kΩ･cm  模拟电阻 10µΩ－200kΩ

HAD-S2662  电阻率  1µΩ･cm－2MΩ･cm  电阻率  10µΩ/sq－2MΩ/sq  模拟电阻 1µΩ－2MΩ

HAD-S2663  电阻率  1µΩ･cm－20MΩ･cm 电阻率   10µΩ/sq－20MΩ/sq  模拟电阻  10µΩ－20MΩ

HAD-S2663A   电阻率   0.1µΩ･cm－20MΩ･cm  电阻率    1µΩ/sq－20MΩ/sq模拟电阻  1µΩ－20MΩ

性能指标

显示器 高清 LCD 液晶显示

显示位数 6 位

精度 电阻率、方阻：4%；模拟电阻：0.1%；

测量功能

量程方式 自动，保持

测量速度 快速: 10 次/秒，中速: 5 次/秒，慢速: 2 次/秒

触发方式 内部，手动，外部

分选和接口

分选功能 内建比较器：合格、上超和下超

讯响 合格，不合格，关闭

接口配置 RS-232C 接口/HANDLER/USB Device（选件）

一般规格

操作环境 0°C －40°C ，≤90%RH

保证精度环境 23±5℃，≤80%RH

电源要求 198V－242V(AC），47.5Hz－63Hz

功耗 ≤30 VA

尺寸、重量 335 mm(宽) x 120 mm(高) x 320 mm(深) 5.5kg

北京恒奥德仪器仪表有限公司
电话：010-51655247/51658042 /15010245973/18911231089

手机：15811023934

联系人：高紫琪

邮箱：hadgs6688@163.com

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